每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu)，晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。

電子束與固體樣品作用時(shí)，會(huì)產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

被樣品原子核反彈回來(lái)的入射電子稱(chēng)為非彈性背散射電子，能量基本上沒(méi)有損失。

熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴(kuò)大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

拉曼光譜分析儀在使用過(guò)程中，正確的實(shí)驗(yàn)操作有（）。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

孔徑半角越小，衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

差熱分析中，若試樣沒(méi)有熱效應(yīng)時(shí)，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱(chēng)為（）。