紅外光分為（）。

電子束與固體樣品作用時，會產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

簡單立方結(jié)構(gòu)材料發(fā)生衍射時，可以產(chǎn)生衍射的晶面為（）。

熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對測試結(jié)果沒有影響。

孔徑半角越小，衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點(diǎn)分布在（）半徑的倒易球上。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。