A.球面外;
B.球面上;
C.球面內(nèi);
D.B+C。
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你可能感興趣的試題
A.尺寸很小的倒易點;
B.尺寸很大的球;
C.有一定長度的倒易桿;
D.倒易圓盤。
A.規(guī)則的平行四邊形斑點;
B.同心圓環(huán);
C.暈環(huán);
D.不規(guī)則斑點。
A.物鏡的物平面;
B.物鏡的像平面
C.物鏡的背焦面;
D.物鏡的前焦面。
A.中間鏡的物平面與與物鏡的背焦面重合;
B.中間鏡的物平面與與物鏡的像平面重合;
C.關(guān)閉中間鏡;
D.關(guān)閉物鏡。
A.第二聚光鏡光欄;
B.物鏡光欄;
C.選區(qū)光欄;
D.其它光欄。
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最新試題
掃描電鏡的二次電子像中,樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子,在熒光屏上這些部位的亮度較大。
孔徑半角越小,衍射效應所決定的電磁透鏡的分辨率越高。
在熱分析技術(shù)中,利用程序溫控裝置,可以升溫、降溫,但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。
差熱分析中,若試樣沒有熱效應時,記錄儀所記錄的ΔT曲線,為水平直線,稱為()。
透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)()的位置來實現(xiàn)的。
熱分析中對樣品的重量沒有要求,只要樣品尺寸能放進坩堝內(nèi),就可以獲得良好的測試結(jié)果。
掃描隧道顯微鏡能用于觀察導體、半導體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。
關(guān)于stokes線和anti-Stokes線,說法正確的是()。
變形振動分為()。
利用電子探針的波譜儀,一個分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的,因此一個分光晶體只能檢測一定原子序數(shù)范圍的元素。