下圖所示的標準試件可用來測定()。
A.分辨率 B.靈敏度 C.邊緣效應 D.厚度效應
A.試件中的變化(如裂紋的存在,金相組織或尺寸的變化)能使二次磁場的相位和振幅發(fā)生變化 B.一次交流電必須是6O周的 C.試件溫度生高 D.Hp(一次磁場強度)和Hs磁場失配使輸出發(fā)生變化
A.導體表面下的渦流最弱 B.導體內的渦流相位是變化的 C.渦流沿直線流動 D.沿線圈軸線的渦流最大