A.儀器故障 B.探頭不良 C.使用靈敏度低 D.儀器采用近區(qū)抑制電路
A.直線型 B.曲線型 C.開口型 D.氣孔
A.利用二次波探傷 B.檢出缺陷位置離探頭入射點遠 C.掃查面積大 D.能有效檢出軌頭上角缺陷