（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。

調節(jié)時基線時，應使（）同時對準相應的聲程位置。

（）是指在確定的聲程范圍內檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產品技術要求或有關標準來確定。

當調節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質衰減不同時，需要進行傳輸修正。

調整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進行（）。

移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。

（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

關于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。