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填空題
對(duì)比試塊是用來校準(zhǔn)超聲波探傷系統(tǒng)的()和測量范圍。
答案:
探傷靈敏度
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填空題
大厚度的平板形試件用直探頭按缺陷回波法探傷時(shí),如無缺陷,則探傷圖形中只有發(fā)射脈沖和底波,如發(fā)現(xiàn)缺陷,則在底波之前顯示()。
答案:
缺陷波
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填空題
在外磁場去掉后施加磁粉叫做()法。
答案:
剩磁
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