A.與被檢表面形成高對(duì)比度
B.與被檢表面形成低對(duì)比度
C.能粘附在被檢工件表面上
D.磁導(dǎo)率越低越好
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A.縱向磁場、橫向缺陷
B.周向磁場、縱向缺陷
C.縱向磁場、縱向缺陷
D.周向磁場、橫向缺陷
A.表面裂紋形成的強(qiáng)
B.近表面裂紋形成的強(qiáng)
C.兩者無區(qū)別
D.上述都不對(duì)
A.材料被磁化難易程度
B.材料中磁場的穿透深度
C.工件需要退磁時(shí)間的長短
D.保留磁場的能力
A.檢測非鐵磁性材料表面和近表面缺陷
B.檢測鐵磁性材料表面和近表面缺陷
C.檢測鐵磁性材料內(nèi)部缺陷
D.各種不同材料的分選
A.探測熱影響區(qū)裂縫
B.探測可能影響斜探頭探測結(jié)果的分層
C.提高焊縫兩側(cè)母材驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn),以保證焊縫質(zhì)量
D.以上都對(duì)
最新試題
康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測的影響包括()
通常所謂20KV的X射線是指()
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
影響較大的散射線通常來自()
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為()
在工作中超聲波檢測儀屏幕上可能會(huì)出現(xiàn)()等信號(hào)波,需要仔細(xì)判別。
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測的是()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()