A、吹去多余的磁粉前
B、吹去多余的磁粉后
C、吹去多余磁粉的過(guò)程中
D、與吹磁粉無(wú)關(guān)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、材料類型
B、電極間的距離
C、零件長(zhǎng)度
D、零件直徑
A.50~200mm范圍內(nèi)
B.75~200mm范圍內(nèi)
C.80~200mm范圍內(nèi)
D.A、B和C
A、軸向通電磁化
B、線圈法縱向磁化
C、觸頭法通電磁化
D、磁軛法磁化
A.1/2的磁極間距
B.1/3的磁極間距
C.1/4的磁極間距
D.3/4的磁極間距
A.用A型試驗(yàn)片可以估計(jì)磁場(chǎng)強(qiáng)度的大小是否滿足靈敏度要求
B.A型試驗(yàn)片貼在試件上時(shí),要把有槽的一面作為外側(cè)
C.試片上的數(shù)字15/100是表示槽的深度為100μm,寬度為15μm
D.A、B和C
最新試題
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí),缺陷定位說(shuō)法正確的有()。
Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是()。
在沒(méi)有外加磁場(chǎng)作用時(shí),鐵磁性材料內(nèi)出現(xiàn)()現(xiàn)象。
對(duì)滲透探傷無(wú)影響的是()。
單晶體金屬特點(diǎn)有()。
鑄件熒光滲透檢測(cè)時(shí),()。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
滲透檢測(cè)工藝對(duì)顯像操作的要求有()。
表面波檢測(cè)中,利用表面波檢測(cè)()效果好。
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。