單項(xiàng)選擇題探頭晶片尺寸越大，其指向角（）。
A.越大
B.越小
C.不變
D.以上都不對(duì)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.單項(xiàng)選擇題探頭指向角是晶片尺寸和介質(zhì)中波長(zhǎng)的函數(shù)，它是隨（）。
A.頻率增加、晶片直徑減小而減小
B.頻率或直徑減小而增大
C.頻率或直徑減小而減小
D.頻率增加、晶片直徑減小而增大
2.單項(xiàng)選擇題一般來(lái)說(shuō)探頭指向角越小，主聲束越窄，從而可以提高對(duì)缺陷的（）和準(zhǔn)確判斷缺陷的位置。
A.分辨力
B.性質(zhì)
C.趨向
D.當(dāng)量
3.單項(xiàng)選擇題當(dāng)橫波入射到平面缺陷時(shí)，會(huì)產(chǎn)生（）現(xiàn)象，這與橫波的入射角有關(guān)。
A.靈敏度降低
B.全透射
C.全反射
D.波型轉(zhuǎn)換
4.單項(xiàng)選擇題超聲波入射到平面缺陷產(chǎn)生波型轉(zhuǎn)換時(shí)，這與波的（）有關(guān)。
A.傳播速度
B.頻率
C.波長(zhǎng)
D.入射角
5.單項(xiàng)選擇題管子的超聲波探傷槽形參考標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)把槽加工在管子的（）。
A.內(nèi)外表面
B.只在內(nèi)表面
C.只在外表面
D.從內(nèi)表面到壁厚的1/2深度
最新試題
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí)，為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度，檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
無(wú)損檢測(cè)設(shè)備、材料采購(gòu)驗(yàn)收內(nèi)容包括（）驗(yàn)收。
題型：多項(xiàng)選擇題
超聲波檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷，在不同的方向上檢測(cè)，缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài)，判定為（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
單晶體金屬特點(diǎn)有（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
潤(rùn)濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象，發(fā)生潤(rùn)濕時(shí)（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
關(guān)于波束未擴(kuò)散區(qū)，說(shuō)法正確的是（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
超聲波探傷儀要盡量避免在（）場(chǎng)合使用。
題型：多項(xiàng)選擇題
探頭主聲束（）將會(huì)影響對(duì)缺陷的定位和判別。
題型：多項(xiàng)選擇題
利用鋼材磁特性曲線制定周向磁化規(guī)范時(shí)，連續(xù)法周向磁場(chǎng)的選擇一般應(yīng)在（）之間為宜。
題型：多項(xiàng)選擇題
對(duì)漏磁檢測(cè)原理描述正確的有（）。
題型：多項(xiàng)選擇題