A、60—150
B、50—175
C、40—200
D、以上都不是
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A、探傷人員根據(jù)制造廠現(xiàn)有探傷人員和設(shè)備技術(shù)水平
B、設(shè)計(jì)人員
C、檢查人員
D、以上都可以
A、仍按20%探傷,但探傷方法選用射線照相,Ⅲ級(jí)合格
B、進(jìn)行100%的射線照相,母材厚度超過(guò)38mm時(shí)還應(yīng)進(jìn)行局部超聲探傷,Ⅲ級(jí)合格
C、進(jìn)行100%的射線照相,母材超過(guò)38mm時(shí)還應(yīng)進(jìn)行局部超聲探傷,Ⅱ級(jí)合格
D、以上均可
A、探傷人員
B、制造廠檢驗(yàn)部門根據(jù)實(shí)際情況
C、設(shè)計(jì)人員
D、以上均可
A、圓形缺陷是按規(guī)定評(píng)定區(qū)框線內(nèi)缺陷折算成點(diǎn)數(shù)來(lái)評(píng)定的。由于不同的評(píng)片人員使用評(píng)定區(qū)框線的誤差、框線放置的差異及測(cè)量誤差,將引起缺陷尺寸的差異,而缺陷尺寸的差異,必然引起折算點(diǎn)數(shù)的差異(如4mm折算成6點(diǎn),4.01mm折算成10點(diǎn)),就是對(duì)同一個(gè)評(píng)片人也會(huì)出現(xiàn)級(jí)別的差異,因此容器制造廠驗(yàn)收或RT人員實(shí)際考試也允許這種差異
B、雖然制造廠100%透照,由于缺陷處于底片的部位不同,特別是外透照的端部端部缺陷與中心一次全曝光的底片相比,前者缺陷拉長(zhǎng),后者缺陷較小,就是同一個(gè)評(píng)片人用同一套工具測(cè)量缺陷,也會(huì)出現(xiàn)不同的結(jié)論
C、AB均是強(qiáng)詞奪理,應(yīng)評(píng)為不合格,屬于產(chǎn)品質(zhì)量問(wèn)題,退修
D、AB是對(duì)的,這屬于照相技術(shù)本身的問(wèn)題,非屬產(chǎn)品質(zhì)量的問(wèn)題
A、通常情況下必須選擇這樣的曝光量,這主要是限制操作者采用高管電壓(降低對(duì)比度),短焦距(降低幾何不清晰度)快速照相的不良做法,確保底片的靈敏度和X光射線機(jī)安全運(yùn)行
B、特殊情況下,不受限制
C、對(duì)于小直徑管子對(duì)接焊縫,也可采用“高能量短時(shí)間”操作,這又是一個(gè)特例
D、以上都對(duì)
最新試題
探傷儀面板上負(fù)責(zé)掃描電路的控制旋鈕有()。
滲透檢測(cè)體系的分辨力是指滲透檢測(cè)體系()的能力。
軟X 射線管選用鉬作陽(yáng)極靶,鉬靶和鎢靶比較,()。
組成滲透液的物質(zhì)很多,為保證其使用性能,除了主要的紅色染料外,又添加了()等物質(zhì)。
壓電晶體產(chǎn)生的壓電效應(yīng)主要有()。
滲透檢測(cè)焊縫,對(duì)焊縫及熱影響區(qū)表面進(jìn)行清理,可以采用()。
下列關(guān)于無(wú)限大固體介質(zhì)中聲速的說(shuō)法錯(cuò)誤的有()。
目前主要用的是數(shù)顯式黑度計(jì),主要作用有()。
各種電氣設(shè)備都有各自的保護(hù)系統(tǒng),X 射線機(jī)的保護(hù)系統(tǒng)主要有()。
后乳化型熒光滲透劑本身不含乳化劑,不起乳化作用,需經(jīng)乳化后才能用水清洗,不易被去除,可以用于()的檢驗(yàn)。