A、連接錯(cuò)誤
B、運(yùn)行錯(cuò)誤
C、邏輯錯(cuò)誤
D、語(yǔ)法錯(cuò)誤
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A、代碼運(yùn)算
B、程序流程
C、算法的邏輯流程
D、相應(yīng)條件
A、可產(chǎn)生最小可執(zhí)行代碼的優(yōu)化和可產(chǎn)生最簡(jiǎn)單邏輯的優(yōu)化
B、可產(chǎn)生最簡(jiǎn)單邏輯的優(yōu)化和可提高執(zhí)行速度的優(yōu)化
C、可產(chǎn)生最小可執(zhí)行代碼的優(yōu)化和可提高執(zhí)行速度的優(yōu)化
D、可產(chǎn)生最少代碼的優(yōu)化和可提高執(zhí)行速度的優(yōu)化
A、系統(tǒng)測(cè)試
B、模塊測(cè)試
C、驗(yàn)收測(cè)試
D、平行測(cè)試
A.劃分等價(jià)類
B.邊界值分析
C.邏輯覆蓋法
D.錯(cuò)誤推測(cè)法
A、單元測(cè)試
B、模塊測(cè)試
C、驗(yàn)證測(cè)試
D、系統(tǒng)測(cè)試
最新試題
下面關(guān)于錯(cuò)誤推測(cè)法說(shuō)法錯(cuò)誤的是()
以下哪項(xiàng)不屬于軟件測(cè)試工具選擇的主要衡量指標(biāo)()
在白盒測(cè)試法中,應(yīng)保證一個(gè)模塊中所有獨(dú)立路徑至少被測(cè)試幾次()
以下哪種集成測(cè)試從程序模塊結(jié)構(gòu)中最底層的模塊開(kāi)始組裝和測(cè)試()
若按測(cè)試內(nèi)容分,軟件測(cè)試可分為()
以下不屬于磁盤(pán)監(jiān)控任務(wù)的是()
下面屬于判定表優(yōu)點(diǎn)的是()
對(duì)于軟件開(kāi)發(fā)者而言軟件測(cè)試是為了()
以下哪項(xiàng)測(cè)試是將所有單元組裝成模塊,測(cè)試各部分工作是否達(dá)到相應(yīng)技術(shù)指標(biāo)級(jí)的活動(dòng)()
TestManager使用時(shí)首先需要()