單項(xiàng)選擇題

被測(cè)平面出現(xiàn)彎曲的干涉條紋時(shí)，當(dāng)切線與三條干涉條紋相交，其平面度偏差為（）。

A.0.29微米
B.0.58微米
C.0.72微米
D.0.87微米

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單項(xiàng)選擇題

干涉光帶為（），表明被測(cè)件的平面度非常高，接近于理想平面，平面度偏差小于0.029微米。

A.直帶
B.同心圓干涉帶
C.橢圓形干涉帶
D.鞍形干涉帶

單項(xiàng)選擇題

若密封環(huán)的外徑超過250mm，可采用涂色法檢查，在零級(jí)平板上對(duì)研，環(huán)的接觸痕跡必須連續(xù)，不能間斷，接觸連續(xù)面積大于總面積的（）為合格。

A.60%
B.70%
C.80%
D.90%