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在進(jìn)行掃頻測試時(shí),如果開啟了解BSIC或解最強(qiáng)小區(qū)的系統(tǒng)信息,會(huì)導(dǎo)致同一時(shí)間內(nèi)掃描到的取樣點(diǎn)數(shù)變少
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