A.射線源的種類或管電壓
B.被檢材料的種類和密度
C.X光管陽(yáng)極靶的原子序數(shù)
D.被檢材料的原子序數(shù)
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A.物質(zhì)的密度
B.物質(zhì)原子序數(shù)
C.波長(zhǎng)
D.以上都對(duì)
A.全部轉(zhuǎn)換
B.無(wú)轉(zhuǎn)換
C.轉(zhuǎn)換成電子對(duì)
D.部分轉(zhuǎn)換
A.康普頓效應(yīng)
B.瑞利效應(yīng)
C.正負(fù)電子
D.電子對(duì)效應(yīng)
A.產(chǎn)生正負(fù)電子對(duì)
B.光子的全部能量被轉(zhuǎn)移
C.光子能量不發(fā)生轉(zhuǎn)移
D.光子能量部分被轉(zhuǎn)移
A.光電效應(yīng)
B.瑞利效應(yīng)
C.康普頓效應(yīng)
D.電子對(duì)效應(yīng)
最新試題
運(yùn)動(dòng)、幾何因素和增感屏的接觸情況,這三種因素影響射線照相的()。
堿性焊條烘烤溫度一般要求()
下面關(guān)于斷電相位控制器的敘述中,正確的是()。
下述無(wú)損檢測(cè)中,能夠檢測(cè)鍛件折疊缺陷的方法是()
以下防止結(jié)晶裂紋的措施的敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
以下哪一條不是產(chǎn)生未焊透的原因()
對(duì)于射線檢驗(yàn)的防護(hù)而言,應(yīng)著重考慮的是()。
用高能射線設(shè)備探傷時(shí),增大焦距的主要目的是()。
高速電子受到陽(yáng)極靶的()阻止而產(chǎn)生連續(xù)X射線。
鍛件檢測(cè)一般不采用射線照相法的原因是()