A.目視法 B.射線法 C.磁粉法 D.渦流法
A.可在光線較暗的環(huán)境下觀察缺陷 B.被探測(cè)零件表面不會(huì)被腐蝕 C.對(duì)零件和環(huán)境的污染小 D.較易檢出微小的缺陷
A.沖洗不夠 B.后乳化法時(shí)乳化時(shí)間不足 C.多孔性材料和涂層 D.以上都可能