A.400安
B.600安
C.800安
D.1000安
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A.只允許向裝有載液的容器中施加磁粉
B.只允許向裝有磁粉的容器中施加載液
C.先用少量載液把磁粉調(diào)成糊狀，然后再緩慢稀釋
D.以上三種方法都不對
A、材料被磁化的難易程度
B、磁場穿透材料的能力
C、檢測最小缺陷的能力
D、以上都是
A.斷點(diǎn)相位控制器
B.整流器
C.快速斷電裝置
A.交流電
B.直流電
C.半波整流
D.三相全波整流
E.以上都是
A.方法與檢測表面裂紋相類似
B.如果缺陷是由細(xì)小的氣孔組成的，就不難檢出
C.如果缺陷的寬度可以估計(jì)出來，檢測就很簡單
D.磁粉探傷方法很難檢查出來
最新試題
探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。
調(diào)節(jié)時基線時，應(yīng)使（）同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
（）可以對管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進(jìn)行傳輸修正。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進(jìn)行（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
單探頭法容易檢出（）。