A.交流電
B.直流電
C.半波整流
D.三相全波整流
E.以上都是
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你可能感興趣的試題
A.方法與檢測(cè)表面裂紋相類似
B.如果缺陷是由細(xì)小的氣孔組成的,就不難檢出
C.如果缺陷的寬度可以估計(jì)出來(lái),檢測(cè)就很簡(jiǎn)單
D.磁粉探傷方法很難檢查出來(lái)
A.受腐蝕的表面
B.陽(yáng)極化的表面
C.涂漆的表面
D.a和c
A.剩磁法探傷中檢查任意取向上表面缺陷最好的方法
B.給工件通以直流電并同時(shí)施加交流磁場(chǎng)的磁化方法
C.利用改變兩個(gè)直流磁場(chǎng)之間的夾角獲得擺動(dòng)磁場(chǎng)或旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)的一種方法
D.以上都不對(duì)
A、盡可能靠近側(cè)壁;
B、離側(cè)壁10mm;
C、離側(cè)壁一個(gè)探頭直徑的距離處;
D、離側(cè)壁二個(gè)探頭直徑的距離處。
A、頻率;
B、波長(zhǎng);
C、速度;
D、脈沖長(zhǎng)度。
最新試題
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
()是影響缺陷定量的因素。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。