紅外線分析儀透過光強度與待測組分濃度是指數關系。
紅外線氣體分析儀產生回程現(xiàn)象是參比邊光強<測量邊光強。
A.參比邊光強=測量邊光強 B.參比邊光強﹤測量邊光強 C.參比氣壓力=測量氣壓力 D.參比氣室濃度﹤測量氣室濃度