剖面圖地貌地物的展繪方法有兩種：按直角坐標(biāo)法和極坐標(biāo)法展繪。（）

試述分組觀測(cè)的原則和方法。

精密水準(zhǔn)儀光學(xué)測(cè)微法的讀數(shù)操作的主要步驟是什么？

坐標(biāo)反算為根據(jù)兩點(diǎn)間邊長(zhǎng)和方位角推算兩個(gè)已知點(diǎn)坐標(biāo)。（）

四等水準(zhǔn)所用儀器不應(yīng)低于（）。