單項(xiàng)選擇題

瓷絕緣子機(jī)械強(qiáng)度試驗(yàn)每（）一次

A.5年
B.6年
C.7年
D.8年

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單項(xiàng)選擇題

當(dāng)絕緣子的機(jī)械強(qiáng)度下降至（）的額定機(jī)電破壞負(fù)荷時(shí)，應(yīng)判為劣化絕緣子。

A.50%
B.70%
C.75%
D.85%

單項(xiàng)選擇題

運(yùn)行單位應(yīng)按DL/T596的要求，絕緣子投運(yùn)后應(yīng)在2年內(nèi)普測(cè)一次，再根據(jù)所測(cè)劣化率和運(yùn)行經(jīng)驗(yàn)可延長(zhǎng)檢測(cè)周期，但最長(zhǎng)不能超過(guò)（）。

A.5年
B.8年
C.10年
D.12年

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