單項(xiàng)選擇題瓷絕緣子機(jī)械強(qiáng)度試驗(yàn)每()一次
A.5年
B.6年
C.7年
D.8年
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1.單項(xiàng)選擇題當(dāng)絕緣子的機(jī)械強(qiáng)度下降至()的額定機(jī)電破壞負(fù)荷時(shí),應(yīng)判為劣化絕緣子。
A.50%
B.70%
C.75%
D.85%
2.單項(xiàng)選擇題運(yùn)行單位應(yīng)按DL/T596的要求,絕緣子投運(yùn)后應(yīng)在2年內(nèi)普測一次,再根據(jù)所測劣化率和運(yùn)行經(jīng)驗(yàn)可延長檢測周期,但最長不能超過()。
A.5年
B.8年
C.10年
D.12年
3.單項(xiàng)選擇題電壓等級500kV以下的絕緣子,其絕緣電阻值低于()判為劣化絕緣子。
A.200MΩ
B.300MΩ
C.500MΩ
D.600MΩ
4.單項(xiàng)選擇題電壓等級500kV絕緣子的絕緣電阻低于(),判為劣化絕緣子。
A.200MΩ
B.300MΩ
C.500MΩ
D.600MΩ
5.單項(xiàng)選擇題瓷絕緣子安裝時(shí),應(yīng)按GB50150所規(guī)定的試驗(yàn)方法,逐只用不小于5000V兆歐表測量絕緣電阻,在干燥情況下其絕緣電阻值應(yīng)不小于()。
A.200MΩ
B.300MΩ
C.500MΩ
D.600MΩ
最新試題
電壓等級500kV以下的絕緣子,其絕緣電阻值低于()判為劣化絕緣子。
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影響復(fù)合絕緣子老化的主要因素是()
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當(dāng)絕緣子的機(jī)械強(qiáng)度下降至()的額定機(jī)電破壞負(fù)荷時(shí),應(yīng)判為劣化絕緣子。
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瓷絕緣子機(jī)械強(qiáng)度試驗(yàn)每()一次
題型:單項(xiàng)選擇題