A、給被測(cè)設(shè)備放電 B、兆歐表開(kāi)路試驗(yàn) C、兆歐表短路試驗(yàn) D、兆歐表開(kāi)路和短路檢驗(yàn)
A、串聯(lián) B、混聯(lián) C、并聯(lián) D、不相聯(lián)