判斷題

斜探頭近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度是按晶片在投影后的有效面積計(jì)算。

答案: 正確
題目列表

你可能感興趣的試題

判斷題

從各個(gè)方向都能探測(cè)到的缺陷是平面狀缺陷。

答案: 錯(cuò)誤
微信掃碼免費(fèi)搜題