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核對(duì)軌頭嚴(yán)重磨耗的軌頭下顎形成的橫向裂紋一般采用側(cè)校。
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核對(duì)與軌頭側(cè)面不近似垂直的核傷一般采用斜校。
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超聲波探傷最大的優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)裂紋等面積狀缺陷能力比射線探傷明顯優(yōu)越。
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