A、不接觸被測設(shè)備,不干擾、不改變設(shè)備運(yùn)行狀態(tài) B、精確、快速、靈敏度高 C、成像鮮明,能保存記錄,信息量大,便于分析 D、發(fā)現(xiàn)和檢出設(shè)備熱異常、熱缺陷的能力差
A、85℃ B、75℃ C、65℃ D、55℃
A.過充電; B.過放電; C.欠充電; D.欠放電。