缺陷垂直時，擴散波束入射至缺陷時回波較高，而定位時就會誤認(rèn)為缺陷在軸線上，從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。

在檢測晶粒粗大和大型工件時，應(yīng)測定材料的衰減系數(shù)，計算時應(yīng)考慮介質(zhì)衰減的影響。

對于比正?？v波底面回波滯后的變形波稱為遲到回波。

爬波在自由表面的位移有垂直分量，但不是純粹的表面波。

為了減少側(cè)壁的影響，必要時可采用試塊比較法進行定量，以便提高定量精度。