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判斷題
以相同的探測靈敏度探測粗晶鑄件或經(jīng)過調(diào)質(zhì)鍛件中的缺陷，如兩者探測面狀態(tài)一樣，在相同深度時(shí)缺陷的回波高度也一樣，則兩者的缺陷鑄件中的大。
答案：
正確
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