A.定量分析
B.定性分析
C.半定量分析
D.固體分析
E.氣體分析
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你可能感興趣的試題
A.原子譜線(xiàn)
B.離子譜線(xiàn)
C.分子譜線(xiàn)
D.電子譜線(xiàn)
E.化合物譜線(xiàn)
A.鹽酸
B.硝酸
C.稀王水
D.王水
E.氫氟酸
A.分光系統(tǒng)
B.檢測(cè)系統(tǒng)
C.數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)
D.計(jì)算機(jī)
E.進(jìn)樣系統(tǒng)
A.預(yù)熱區(qū)
B.初始輻射區(qū)
C.正常分析區(qū)
D.尾焰區(qū)
E.外焰區(qū)
A.無(wú)水高氯酸鎂
B.賽璐璐
C.氧化銅
D.鍍鉑硅膠
E.氧化鈣
最新試題
高純鐵中超低碳硫含量的紅外線(xiàn)吸收法測(cè)定過(guò)程中，陶瓷坩堝拆裝后即可立即使用，無(wú)需任何預(yù)處理。
氧氮分析儀測(cè)氮時(shí)，是通過(guò)紅外池檢測(cè)試樣熔融后釋放出的氮?dú)饬縼?lái)檢測(cè)的。
ICP光譜干擾包括（）。
鋼鐵中氫含量采用脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測(cè)定時(shí)，根據(jù)熱導(dǎo)池輸出電流值與氫的濃度關(guān)系，從校準(zhǔn)曲線(xiàn)上得到氫含量。
脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測(cè)定鋼鐵中氫含量，分析前應(yīng)用有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行檢查和校準(zhǔn)儀器，所用實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)的氫含量應(yīng)略大于被分析試樣的含氫量。
X射線(xiàn)熒光光譜分析中，分光晶體對(duì)溫度的變化比較敏感，一般要求晶體室溫度變化在（）度內(nèi)。
使用CS600測(cè)定純鐵中超低碳硫含量，控制分析空白是關(guān)鍵。
ICP-AES方法與ICP-MS相比具有的缺點(diǎn)是（）。
ICP光譜儀中石英炬管清洗時(shí)用的酸是（）。
直讀光譜分析鐵水試樣時(shí)，鐵水試樣必須白口化。