A、射線檢測成本太高 B、可能有表面缺陷發(fā)生 C、滲透或磁粉探傷的技巧較少 D、以上都對
A、避免水份滲入缺陷內(nèi)部 B、可以加快滲透檢驗速度 C、避免產(chǎn)生氫脆問題 D、以上都對
A、15 B、50 C、30 D、40