A.0.5~3.0 B.0.1~0.4 C.10~25 D.1.2~2.4
A.低濃度會(huì)使缺陷漏檢 B.高濃度會(huì)掩蓋相關(guān)顯示 C.高濃度會(huì)形成過度背景 D.缺陷檢出與磁懸液濃度無關(guān)
A.A1型、C型、D型、M1型 B.A型、C型 C.A型、C型、D型、M型 D.A1型、M1型