A.安培/米;
B.米/安培;
C.特斯拉;
D.高斯
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.磁場測量圖;
B.磁強(qiáng)計(jì);
C.磁圖;
D.磁通計(jì)
A、順磁性的
B、逆磁性的
C、鐵磁性的
D、非鐵磁性的
A.順磁性材料;
B.抗磁性材料;
C.鐵磁性材料;
D.非磁性材料
A.順磁性材料;
B.抗磁性材料;
C.鐵磁性材料;
D.非磁性材料
A.被磁化的材料;
B.非磁性材料;
C.鐵磁性材料;
D.被極化的材料
最新試題
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時(shí),按一條磁痕處理,其長度為兩條磁痕之和加間距。
在工件內(nèi)部的剩磁,周向磁化要比縱向磁化大的多。
磁粉檢測—橡膠鑄型法是采用連續(xù)法檢測。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:當(dāng)辯認(rèn)細(xì)小缺陷磁痕時(shí)應(yīng)用2~10倍放大鏡進(jìn)行觀察。
對(duì)于交流線圈,線圈中的工件將影響電流的調(diào)整。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:大型工件可使用交流電磁軛進(jìn)行局部退磁或采用纏繞電纜線圈分段退磁。
熒光磁粉檢測時(shí),磁痕的評(píng)定應(yīng)在暗室或暗處進(jìn)行,暗室或暗處可見光照度應(yīng)不小于20Lx。
用連續(xù)法檢測時(shí),檢測靈敏度幾乎不受被檢工件材質(zhì)的影響,僅與被檢工件表面磁場強(qiáng)度有關(guān)。
打亂材料磁疇排布的兩種方法是:加熱到居里點(diǎn)溫度以上熱處理退磁法和反磁場退磁法。
退磁就是消除材料磁化后的剩余磁場使其達(dá)到無磁狀態(tài)的過程。