A.橫向裂縫
B.夾渣
C.縱向缺陷
D.以上都對(duì)
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A.焊道
B.缺陷
C.結(jié)構(gòu)
D.以上全部
A.不考慮探測(cè)面的耦合差補(bǔ)償
B.不考慮材質(zhì)衰減差補(bǔ)償
C.不必使用校正試塊
D.以上都是
A.直探頭端面探傷
B.直探頭側(cè)面探傷
C.斜探頭端面探傷
D.斜探頭側(cè)面探傷
A.軸向直探頭探傷
B.徑向直探頭探傷
C.斜探頭外圓面軸向探傷
D.斜探頭外圓面周向探傷
A.縱波直探頭
B.表面波探頭
C.橫波直探頭
D.聚集探頭
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最新試題
對(duì)于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫,采用的透照方式為()。
對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn),檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn),否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。
下面給出的射線檢測(cè)基本原理中,正確的是()。
航天無(wú)損檢測(cè)人員的資格分為三個(gè)等級(jí):Ⅰ級(jí)為初級(jí),Ⅱ級(jí)為中級(jí),Ⅲ級(jí)為高級(jí)。其中Ⅱ級(jí)人員應(yīng)具備的能力有()。
對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過(guò)式線圈,其阻抗變大的情況有()
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。
點(diǎn)焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測(cè)方法是X射線檢測(cè)。
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
X射線檢測(cè)人員健康體檢為每()年一次。