單項(xiàng)選擇題單晶片直探頭接觸法探傷中，與探測面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出，這是因?yàn)椋海ǎ?/strong>

A.近場干擾
B.材質(zhì)衰減
C.盲區(qū)
D.折射


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1.單項(xiàng)選擇題調(diào)節(jié)儀器面板上的“抑制”旋鈕會影響探傷儀的（）

A.垂直線性
B.動態(tài)范圍
C.靈敏度
D.以上全部

2.單項(xiàng)選擇題儀器的垂直線性好壞會影響：（）

A.缺陷的當(dāng)量比較
B.AVG曲線面板的使用
C.缺陷的定位
D.以上都對