A、曝光時(shí)間不正確
B、試件與底片距離過(guò)大
C、曝光時(shí)所用的鉛箔增感屏損壞
D、過(guò)度暴露在紫外線下
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A、缺陷
B、瑕疵
C、錯(cuò)誤顯示
D、無(wú)關(guān)顯示
A、錯(cuò)誤顯示
B、無(wú)關(guān)顯示或非相關(guān)顯示
C、有關(guān)顯示或相關(guān)顯示
D、瑕疵
A、錯(cuò)誤顯示
B、無(wú)關(guān)顯示或非相關(guān)顯示
C、有關(guān)顯示或相關(guān)顯示
D、瑕疵
A、白色圓點(diǎn)
B、黑色圓點(diǎn)
C、白色線條
D、黑色線條
A、非破壞檢測(cè)人員
B、制造者
C、設(shè)計(jì)者或顧客或其他權(quán)責(zé)單位
D、公司董事長(zhǎng)或總經(jīng)理
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最新試題
關(guān)于圓晶片輻射的超聲波,下列說(shuō)法正確的是()(S為傳播距離,N為近場(chǎng)長(zhǎng)度)。
選擇滲透探傷方法時(shí),對(duì)于疲勞裂紋、磨削裂紋及其它微小裂紋應(yīng)優(yōu)先選用()
下列磁化方法中容易計(jì)算工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度的是()
化學(xué)清洗用于去除工件表面的()
半價(jià)層厚度與()相關(guān)。
水浸式垂直探傷鋼板時(shí),超聲波進(jìn)入工件內(nèi)傳播的有()
射線照像底片上產(chǎn)生黑色樹(shù)枝狀花紋的原因是()
與直探頭相比,雙晶探頭()
射線經(jīng)過(guò)一個(gè)半價(jià)層后,其()衰減一半。
蒸汽除油方法不能用于()零件。