A、射源尺寸 B、射源到缺陷的距離 C、缺陷到膠片的距離 D、缺陷相對于射源和膠片的位置和方向
A、影像放大率Mf數(shù)越小,因而缺陷越難發(fā)現(xiàn) B、影像放大率Mf數(shù)越大,而缺陷越難觀察 C、形狀修正系數(shù)σ越大,因而缺陷檢出率越低 D、以上都不是
A、為了工作方便,底片與增感屏同裝在底片套內(nèi)時,每次可多裝一些,以后慢慢取用 B、與增感屏同裝在一起的底片有增感屏保護(hù),在較高溫度下也沒有關(guān)系 C、有增感屏保護(hù),可防止底片受潮 D、以上都不對