A、射源至試件距離越遠,影像放大得越大 B、射源至試件的距離與試件至底片距離之比越大,影像放大得越大 C、射源至試件的距離與試件至底片距離之比越小,影像放大得越大 D、射源至試件的距離與影像放大無關(guān)
A、射源至底片的距離 B、曝光時間 C、KV D、mA
A、第一次較易檢出缺陷 B、第二次較易檢出缺陷 C、對于缺陷檢出力無法比較 D、以上都對