單項(xiàng)選擇題

在相同檢測(cè)條件下，同一缺陷所在試件位置越靠近底片側(cè)時(shí)，則（）

A、其影像放大得越大，而其幾何不清晰度變大
B、其影像放大得越小，而其幾何不清晰度變大
C、其影像放大得越大，而其幾何不清晰度變小
D、其影像放大得越小，而其幾何不清晰度變小

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