單項(xiàng)選擇題直探頭探測(cè)厚度250mm和500mm的兩個(gè)餅形試件，若后者探測(cè)面粗糙且與前者耦合差為5dB，兩者的材質(zhì)雙聲程衰減均為0.004dB/mm，當(dāng)前者的底面回波調(diào)至示波屏滿幅的80%時(shí)，后者的底面回波應(yīng)為示波屏滿幅的（）
A、5%
B、10%
C、20%
D、40%
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1.單項(xiàng)選擇題在下述測(cè)試項(xiàng)目中指出與評(píng)價(jià)超聲波檢測(cè)儀主要性能有關(guān)的測(cè)試項(xiàng)目（）
A、分辨力和靈敏度
B、指向性和近場(chǎng)長(zhǎng)度
C、折射角和入射角
D、指示長(zhǎng)度
2.單項(xiàng)選擇題在用直探頭進(jìn)行水浸法探傷時(shí)，探頭至探測(cè)面的水層距離應(yīng)調(diào)節(jié)在使一次與二次界面回波之間至少出現(xiàn)一次（）
A、缺陷回波
B、遲到回波
C、底面回波
D、側(cè)面回波
最新試題
X射線檢測(cè)人員健康體檢為每（）年一次。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
射線檢測(cè)最有害的危險(xiǎn)源是（），必須嚴(yán)加控制。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查，并出具X光底片復(fù)查報(bào)告，復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。
題型：判斷題
產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工（如校形、修刮、重熔等），否則應(yīng)重新申請(qǐng)進(jìn)行X射線檢測(cè)。
題型：判斷題