單項(xiàng)選擇題當(dāng)CMOS中的參數(shù)被破壞時(shí)，可選擇（）進(jìn)行恢復(fù)。

A、Auto Configuration With Power ON Defaults              
B、Auto Configuration With BIOS Defaults          
C、打開(kāi)機(jī)器將CMOS Reset 跳線開(kāi)關(guān)的1、2腳短接
D、STANDARD CMOS SETUP


您可能感興趣的試卷

你可能感興趣的試題

1.單項(xiàng)選擇題對(duì)待修理儀器設(shè)備加電時(shí)，若發(fā)現(xiàn)有打火現(xiàn)象，應(yīng)（）。

A、注意觀察打火部位是否有異物
B、調(diào)整與之相關(guān)的某個(gè)可調(diào)電阻或電容，看打火現(xiàn)象是否消失
C、繼續(xù)觀察，看打火現(xiàn)象是否會(huì)自動(dòng)消失
D、立即關(guān)機(jī)

2.單項(xiàng)選擇題在檢測(cè)儀器設(shè)備故障的過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)某個(gè)電容被擊穿，此時(shí)（）即可。

A、應(yīng)更換一只相同容量的電容
B、可更換一只類(lèi)型相同、參數(shù)略有差異的電容替代
C、應(yīng)更換一只型號(hào)、參數(shù)完全相同且符合原設(shè)計(jì)挑選要求的電容
D、一般不需要進(jìn)行任何處理

3.單項(xiàng)選擇題在使用IC在線測(cè)試儀進(jìn)行LSI分析測(cè)試中，正確的說(shuō)法是（）。

A、芯片的每種邏輯功能均對(duì)應(yīng)于一個(gè)子測(cè)試
B、芯片的輸入輸入輸出關(guān)系可用真值表確定
C、可利用儀器生產(chǎn)廠家提供的測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù)
D、可以判斷被測(cè)件的外特性是否正常

4.單項(xiàng)選擇題目前最先進(jìn)的IC在線測(cè)試儀約可測(cè)試（）的IC芯片。

A、約500種
B、約1000種
C、約2000種
D、超過(guò)3000種