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使用磁軛探傷,當磁極與探傷面接觸不良時,在磁極周圍不能探傷的盲區(qū)就增大。
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靈敏度標準試片可用來測定磁粉探傷系統(tǒng)的綜合性能和磁粉性能。
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A型標準試片上施加磁粉是用剩磁法進行的。
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