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為了減少來自元件本身散射線對(duì)底片質(zhì)量的影響,經(jīng)常采用的措施是鉛板遮蓋工件非透照部分。
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判斷題
從可檢測(cè)的最小缺陷尺寸的意義上說,射線照相靈敏度取決于底片上缺陷影響的對(duì)比度。
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判斷題
與射線照相法相比,熒光屏觀察法的優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)速度快,可即時(shí)判別,但靈敏度較低,難以將缺陷永久記錄保存。
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