A. 射線源的種類或管電壓
B. 被檢材料的種類和密度
C. X光管陽極靶的原子序數(shù)
D. 被檢材料的原子序數(shù)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A. 物質(zhì)的密度
B. 物質(zhì)原子序數(shù)
C. 波長(zhǎng)
D. 以上都對(duì)
A. 全部轉(zhuǎn)換
B. 無轉(zhuǎn)換
C. 轉(zhuǎn)換成電子對(duì)
D. 部分轉(zhuǎn)換
A.康普頓效應(yīng)
B.瑞利效應(yīng)
C.正負(fù)電子
D.電子對(duì)效應(yīng)
A. 產(chǎn)生正負(fù)電子對(duì)
B. 光子的全部能量被轉(zhuǎn)移
C. 光子能量不發(fā)生轉(zhuǎn)移
D. 光子能量部分被轉(zhuǎn)移
A. 光電效應(yīng)
B. 瑞利效應(yīng)
C. 康普頓效應(yīng)
D. 電子對(duì)效應(yīng)
最新試題
使后乳化滲透探傷失敗的主要原因是乳化過度。
熒光探傷檢驗(yàn)零件前需適應(yīng)黑暗的時(shí)間是30 min。
滲透檢驗(yàn)時(shí),零件溫度如果過低,則滲透劑會(huì)變得過稀。
一般說來,表面張力小的液體對(duì)固體表面的浸潤(rùn)作用不顯著。
采用噴洗法去除殘留于工件表面的滲透液時(shí),粘度低的滲透劑不容易從裂紋中除掉。
著色滲透劑優(yōu)于熒光滲透劑的原因是不需要黑光燈。
使后乳化滲透探傷失敗的主要原因是滲透時(shí)間過長(zhǎng)。
滲透探傷不能發(fā)現(xiàn)工件內(nèi)部的孔洞。
將白色粉末狀的顯像材料調(diào)勻在有機(jī)溶劑中,同溶劑去除型滲透液一起使用的顯像方法是快干式顯像法。
能夠正確反映滲透探傷靈敏度的試塊應(yīng)具備的條件是具有寬度要求和相當(dāng)長(zhǎng)度的表面裂紋、具有規(guī)定深度的表面裂紋、裂紋內(nèi)部不存在粘污物。