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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】缺陷記錄應(yīng)包含的內(nèi)容？
答案：
缺陷標(biāo)識(shí)、缺陷類(lèi)型、缺陷嚴(yán)重程度、缺陷產(chǎn)生可能性、缺陷優(yōu)先級(jí)、缺陷狀態(tài)、缺陷起源、缺陷來(lái)源、缺陷原因。
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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述bug的生命周期？
答案：
對(duì)于一名測(cè)試人員，bug的生命周期一般分為：發(fā)現(xiàn)bug→提交bug→驗(yàn)證bug→關(guān)閉bug
問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】性能測(cè)試的流程？
答案：
1.測(cè)試需求分析；
2.測(cè)試計(jì)劃制定與評(píng)審；
3.測(cè)試用例設(shè)計(jì)與開(kāi)發(fā)；
4.測(cè)試執(zhí)行與監(jiān)控...
2.測(cè)試計(jì)劃制定與評(píng)審；
3.測(cè)試用例設(shè)計(jì)與開(kāi)發(fā)；
4.測(cè)試執(zhí)行與監(jiān)控...
