問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述運(yùn)行的保護(hù)盤(pán)上開(kāi)孔應(yīng)注意哪些內(nèi)容？

答案： 1）將可能因震動(dòng)而誤動(dòng)的保護(hù)停用；
2）防止掉下鐵屑造成運(yùn)行繼電器端子接地或短路；
3）將盤(pán)后的二次...
題目列表

你可能感興趣的試題

問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】整組試驗(yàn)有什么反措要求？
答案： 用整組試驗(yàn)的方法即除由電流即電壓端子通入與故障量外，保護(hù)裝置處于與運(yùn)行完全相同的狀態(tài)下，檢查保護(hù)回路及整定值的正確性。不...
問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】對(duì)集成電路型及微機(jī)型保護(hù)的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試應(yīng)注意些什么？
答案： （1）不得在現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)過(guò)程中進(jìn)行檢修。
（2）在現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)過(guò)程中不允許拔出插板測(cè)試，只允許用廠家提供的測(cè)試孔或測(cè)試板...
微信掃碼免費(fèi)搜題