A、等于Φ2mm平底孔 B、比Φ2mm平底孔大 C、比Φ2mm平底孔小 D、大于等于Φ2mm平底孔
A、試塊探測面表面狀態(tài)不一致 B、近場中干涉的影響 C、孔的幾何形狀不準(zhǔn)確 D、全都可能
A、相同 B、增高 C、降低 D、延長