由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個面，甚至只有一個可探測面。

垂直法局部掃查即探頭在整個面上按規(guī)定，并事先劃出的線上移動，相鄰掃查線的間距往往（）探頭直徑。

60kg/m與75kg/m軌頭寬度極限偏差為（）

使用雙探頭掃查時，如盲目改變掃查方向，將會導致（）。

在超聲波探傷中當工件聲衰減很小、試件的厚度較大時，如果重復頻率過高，儀器可能會產(chǎn)生（）

探傷掃查過程中，探頭的方向應根據(jù)（）進行布局和掃查。

采用兩個斜探頭（一收一發(fā)）交叉（）的掃查方式叫做交叉掃查。

為了提高探傷結(jié)果的可靠性，探傷前應對被檢工件的（）和形成規(guī)律以及受檢部位的受力方向等進行調(diào)查。

探傷工藝規(guī)程編制的內(nèi)容有很多，其中包括（）。

核對軌頭剝離層下的傷損一般采用（）。