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填空題
按照盡可能聲束與缺陷垂直的原則,選擇探頭主要考慮所測試件的結(jié)構(gòu)和()。
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填空題
探頭晶片尺寸(),近場區(qū)長度增加,對近表面的缺陷探測不利。
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填空題
斜探頭主要用于探測與探測面()或成一定角度的缺陷。
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