探傷中探頭晶片尺寸增加，相應(yīng)的（）對探傷有利。

垂直法局部掃查即探頭在整個(gè)面上按規(guī)定，并事先劃出的線上移動，相鄰掃查線的間距往往（）探頭直徑。

探傷工藝規(guī)程編制的內(nèi)容有很多，其中包括（）。

探傷工藝規(guī)程編制應(yīng)對受檢工件的（）做好記錄。

探頭移動過程中同時(shí)作（）轉(zhuǎn)動，稱為擺動掃查。

探傷中如遇焊補(bǔ)層下異常回波可采?。ǎ┑确椒ㄟM(jìn)行校對。

探傷工技師對設(shè)備調(diào)整中的（）的相關(guān)知識應(yīng)了解。

探傷中對工件材料的（）有一定的要求。

垂直法探傷時(shí)，對要求不太高的工件常采用局部法進(jìn)行掃查，局部法掃查一般分為（）。

超聲波探傷探頭的型式一般有（）等。