單項(xiàng)選擇題

探頭晶片尺寸（），近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度增加，對(duì)近表面探傷不利。

A、增加
B、減小
C、不變

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單項(xiàng)選擇題

雙晶探頭用于探測(cè)工件（）缺陷。

A、近表面
B、表面
C、內(nèi)部
D、平面形

單項(xiàng)選擇題

探傷儀主要指標(biāo)中的動(dòng)態(tài)范圍和電路中的（）關(guān)聯(lián)較大。

A、電源部分
B、顯示部分
C、接收部分
D、發(fā)射部分