缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準反射體聲壓之比。

超聲波在圓柱內反射，如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉換，且一次反射橫波再經另一側圓柱面波形轉換成二反射縱波，返回探頭接收，會形成等邊的三角形遲到回波。

根據球形反射體返回晶片聲壓的計算公式與圓柱形平面反射體的表達式進行比較可知，在反射體直徑相同的情況下，圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。

對于圓柱體而言，外圓徑向檢測實心圓柱體時，入射點處的回波聲壓實際上由于圓柱面耦合不及平面，因而其回波高于平底面，會使定量誤差增加。

高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊，使之形成高溫耦合層。

儀器時基線調節(jié)比例時，若回波前沿沒有對準相應垂直刻度或讀數不準，會使缺陷定位誤差增加。

對于橫波斜探頭而言，不同K值的探頭的靈敏度不同，因此探頭K值偏差也會影響缺陷的定量。

當探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時，而又沒有進行適當的補償，會使定量誤差增加，精度下降。

橫波檢測平板對接焊縫根部未焊透等缺陷時，不同K值探頭檢測同一根部缺陷，其回波高相差不大。

衍射時差法對缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。